Mikroszkóp szójegyzék

KEYENCE

  • Katalógusok megtekintése
  • Webeskapcsolat/
    árajánlatkérés
  • Telefonoskapcsolat/
    árajánlatkérés
    +36 1 802 7360
  • Kezdőlap
  • Erőforrásközpont
  • Mikroszkóp szójegyzék
  • Mikroszkópokhoz kapcsolódó eszközök
  • Differenciál interferencia kontraszt (DIC)

Differenciál interferencia kontraszt (DIC)

A differenciál interferencia kontraszt (vagy Nomarski) olyan megvilágítási technológia, amely a fényhullámok interferenciájának segítségével teszi láthatóvá a felületi egyenetlenségek apró változásait. A módszer lényege, hogy a mikroszkóp által kibocsátott fényt polarizálja, a fényt két különálló sugárra bontja egy speciális prizma segítségével, majd a visszavert fényt újra egyesíti interferenciát okozva, ami a kép világosodását és sötétedését eredményezi. Ezzel a módszerrel még az átlátszó és nagyon kis kontrasztú tárgyakat is részletesen lehet vizsgálni.

Több mint 20 ezer cég támaszkodik ezekre a képalkotási és elemzési képességekre

VHX sorozatú digitális mikroszkóp

Letöltés

  • Mikroszkópokhoz kapcsolódó eszközökZoom objektívek
  • Mikroszkópokhoz kapcsolódó eszközökVáltoztatható szögű megfigyelőrendszer

TARTALOM

Digitális mikroszkóp kézikönyv

Ismerje meg a legújabb mikroszkóprendszerek alapelveit és technológiáit.

Letöltés

  • Mikroszkóp alapismeretek
    • A mikroszkópok alapvető felépítése és működési elve
    • A mikroszkópok fő típusai
    • A mikroszkópok története
    • Mikroszkóp megvilágítási módszerek
    • Mikroszkópos vizsgálati módok
    • A mikroszkópok optikai rendszerei
  • Optikai mikroszkópok
    • Digitális mikroszkóp
    • Sztereomikroszkópok
    • Mérőmikroszkóp
    • Metallurgiai mikroszkóp
    • Biológiai mikroszkópok
    • Összetett mikroszkóp
    • Nagy teljesítményű mikroszkóp
    • Fénymikroszkóp
  • Egyéb mikroszkópok
    • Konfokális mikroszkóp
    • Lézeres, konfokális pásztázó mikroszkópok
    • Pásztázó elektronmikroszkóp
    • Konfokális fluoreszcencia mikroszkóp
    • Atomerő-mikroszkópok (AFM)
  • Mikroszkópokhoz kapcsolódó eszközök
    • Zoom objektív
    • Differenciál interferencia kontraszt (DIC)
    • Változtatható szögű megfigyelőrendszer
    • Hűtött CCD
  • Mikroszkópos vizsgálati technikák
    • HDR (Magas dinamikatartomány)
    • Mélységkompozíció
    • 3D képalkotás
  • Mikroszkóp megvilágítási technikák
    • Átmenőfényes megvilágítás
    • Koaxiális megvilágítás
    • Gyűrűs megvilágítás
    • Diffúz megvilágítás
    • Részleges megvilágítás
    • Polarizált megvilágítás
  • Mikroszkópokhoz kapcsolódó terminológia
    • Mélységélesség
    • Numerikus apertúra (N.A.)
    • Képérzékelő
    • Színfelbontás
    • Felületi becsillanás
    • Telecentrikus objektívek
    • Részecske / Tisztaságvizsgálat
  • Több mint 20 ezer cég támaszkodik ezekre a képalkotási és elemzési képességekre
    Letöltés

+36 1 802 7360

  • Katalógusok megtekintése
  • Kapcsolat/
    árajánlatkérés
Menü

Kezdőlap

  • Mikroszkóp alapismeretek
    • A mikroszkópok alapvető felépítése és működési elve
    • A mikroszkópok fő típusai
    • A mikroszkópok története
    • Mikroszkóp megvilágítási módszerek
    • Mikroszkópos vizsgálati módok
    • A mikroszkópok optikai rendszerei
  • Optikai mikroszkópok
    • Digitális mikroszkóp
    • Sztereomikroszkópok
    • Mérőmikroszkóp
    • Metallurgiai mikroszkóp
    • Biológiai mikroszkópok
    • Összetett mikroszkóp
    • Nagy teljesítményű mikroszkóp
    • Fénymikroszkóp
  • Egyéb mikroszkópok
    • Konfokális mikroszkóp
    • Lézeres, konfokális pásztázó mikroszkópok
    • Pásztázó elektronmikroszkóp
    • Konfokális fluoreszcencia mikroszkóp
    • Atomerő-mikroszkópok (AFM)
  • Mikroszkópokhoz kapcsolódó eszközök
    • Zoom objektív
    • Differenciál interferencia kontraszt (DIC)
    • Változtatható szögű megfigyelőrendszer
    • Hűtött CCD
  • Mikroszkópos vizsgálati technikák
    • HDR (Magas dinamikatartomány)
    • Mélységkompozíció
    • 3D képalkotás
  • Mikroszkóp megvilágítási technikák
    • Átmenőfényes megvilágítás
    • Koaxiális megvilágítás
    • Gyűrűs megvilágítás
    • Diffúz megvilágítás
    • Részleges megvilágítás
    • Polarizált megvilágítás
  • Mikroszkópokhoz kapcsolódó terminológia
    • Mélységélesség
    • Numerikus apertúra (N.A.)
    • Képérzékelő
    • Színfelbontás
    • Felületi becsillanás
    • Telecentrikus objektívek
    • Részecske / Tisztaságvizsgálat

Termékválaszték

  • Szenzorok
  • Mérőszenzorok
  • Mérőeszközök
  • Biztonságtechnika
  • Nyomás- és folyadékáramlásérzékelők
  • Sztatikuselektromosság-mentesítők / Ionizálók
  • Kamerarendszerek
  • Vezérlők
  • Lézeres jelölők / lézeres jelölés
  • Mikroszkópok
  • Vonalkódolvasók
  • Kézi számítógépek
  • Rólunk
  • Adatvédelem
  • KEYENCE

Copyright (C) 2023 KEYENCE CORPORATION. All Rights Reserved.

tcm:123-2008252-64