Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D Seria VK-X3000

Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D Seria VK-X3000 wykorzystuje zasadę potrójnego skanowania, wybierając optymalną metodę w zależności od sytuacji — laserowy pomiar konfokalny, zmiana ostrości lub interferometria z użyciem światła. Zapewnia to wysoce precyzyjne pomiary i pozwala na analizowanie różnych obiektów. Maksymalna rozdzielczość 0,01 nm umożliwia precyzyjny pomiar zmian kształtu z dokładnością do nanometrów. Błyskawiczne skanowanie obszarów o powierzchni aż 50 × 50 mm, w tym także obiektów drobnych i z dużymi różnicami wysokości w celu szybkiej analizy ogólnego kształtu i konkretnych obszarów. Ponadto rozwiązanie umożliwia szybki, wysoce precyzyjny i obejmujący duży obszar pomiar trudnych materiałów z powierzchniami przezroczystymi lub odbijającymi światło. Ten zupełnie nowy mikroskop laserowy obsługuje każdy obiekt niezależnie od stopnia powiększenia (dużego lub małego), nierówności powierzchni (płaskie lub nierówne) i rodzaju powierzchni (przezroczyste lub odbijające światło).