Ostatnie wyszukiwania
    Seria ( wyników)
      Modele ( wyników)
        Słowa kluczowe
          1. Strona główna
          2. Produkty
          3. Projektory pomiarowe
          4. Cyfrowe projektory pomiarowe
          5. Cyfrowy system pomiarowy
          6. Modele
          7. Głowica pomiarowa

          Cyfrowy system pomiarowySeria IM-7000

          Głowica pomiarowa

          IM-7030T

          DANE TECHNICZNE

          Wybierz język

          modelul

          IM-7030T

          Typ

          Głowica
          Dotykowy moduł pomiaru wysokości

          Matryca światłoczuła

          Monochromatyczny CMOS 1" 6,6 Mpx

          Wyświetlacz

          10. 4-calowy monitor LCD (XGA: 1024 × 768)

          Obiektyw odbiorczy

          Podwójny obiektyw telecentryczny

          Pomiar obrazu

          Pole widzenia

          Tryb pomiarowy o szerokim polu widzenia: 300 mm × 200 mm (4 × R50)
          Tryb pomiarowy o wysokiej precyzji: 225 × 125 mm

          Minimalna jednostka wyświetlania

          0,1 µm

          Powtarzalność

          Bez ruchu stolika

          Tryb pomiarowy o szerokim polu widzenia: ±1 µm
          Tryb pomiarowy o wysokiej precyzji: ±0,5 µm

          Z ruchem stolika

          Tryb pomiarowy o szerokim polu widzenia: ±2 µm
          Tryb pomiarowy o wysokiej precyzji: ±1,5 µm

          Dokładność pomiaru (±2σ)

          Bez łączenia

          Tryb pomiarowy o szerokim polu widzenia: ±5 µm*1
          Tryb pomiarowy o wysokiej precyzji: ±2 µm*2

          Z łączeniem

          Tryb pomiarowy o szerokim polu widzenia: ±(7 + 0,02 L) µm*3
          Tryb pomiarowy o wysokiej precyzji: ± (4 + 0,02 L) µm*4

          Pomiar za pomocą sondy świetlnej

          Obszar mierzalny (XY)

          190 × 90 mm

          Maksymalna głębokość pomiaru

          30 mm

          Średnica sondy świetlnej

          ø3 mm

          Nacisk przy pomiarze

          0,015 N

          Powtarzalność

          ± 2 µm*5

          Dokładność pomiaru

          ±(8 + 0,02 L) µm*6

          Pomiar wysokości

          Zakres pomiaru

          Od 0 do 75 mm

          Nacisk przy pomiarze

          0,3 N

          Dokładność pomiaru (XY)

          ±0,2 mm*7

          Minimalna jednostka wyświetlania

          1 µm

          Obszar mierzalny (XY)

          Tryb pomiarowy o szerokim polu widzenia: 145 × 95 mm
          Tryb pomiarowy o wysokiej precyzji: 107,5 × 95 mm

          Powtarzalność

          ±2 µm*8

          Dokładność pomiaru

          ±7,5 µm*9

          Zewnętrzne wejście zdalne

          Wejście beznapięciowe (z lub bez kontaktu)

          Wyjście zewnętrzne

          OK/NG/FAIL/MEAS.

          Wyjście PhotoMos
          Obciążenie znamionowe 24 V DC, 0,5 A
          Przy rezystancji 50 mΩ lub niższej

          Interfejs

          LAN

          RJ-45 (10BASE-T/100BASE-TX/1000BASE-T)

          USB 2.0 seria A

          6 portów (przód: 2, tył: 4)

          Nagrywanie

          Dysk twardy

          500 GB

          System oświetlenia

          Przezroczyste

          Telecentryczny system oświetlenia

          Pierścieniowe

          Cztery segmenty, oświetlenie wielokątowe (elektryczne)
          Oświetlacz szczelinowy (elektryczny)

          Stolik XY

          Zakres ruchu

          200 × 100 mm (elektryczny)

          Nośność

          7,5 kg

          Stolik Z

          Zakres ruchu

          75 mm (elektryczny)

          Zasilanie

          Napięcie zasilania

          100–240 V AC, 50/60 Hz

          Pobór prądu

          430 VA lub niższy

          Odporność na warunki otoczenia

          Temperatura otoczenia podczas pracy

          Od +10°C do 35°C

          Wilgotność otoczenia podczas pracy

          20% do 80% wzgl. wilg. (bez kondensacji)

          Masa

          Ok. 35 kg

          *1 W zakresie ø80 mm, w temperaturze otoczenia podczas pracy +23°C ±1°C i przy prawidłowej ostrości
          *2 W zakresie ø20 mm, w temperaturze otoczenia podczas pracy +23°C ±1°C i przy prawidłowej ostrości
          *3 W zakresie 280 × 180 mm (4× R40), w roboczej temperaturze otoczenia +23°C ±1°C, przy prawidłowej ostrości oraz przy obciążeniu stolika wynoszącym 3 kg lub mniej (L = wielkość ruchu stolika w mm)
          *4 W zakresie 220 × 120 mm, w roboczej temperaturze otoczenia +23°C ±1°C, przy prawidłowej ostrości oraz przy obciążeniu stolika wynoszącym 3 kg lub mniej (L = wielkość ruchu stolika w mm)
          *5 Z systemem wykrywania w pozycji standardowej. Jeśli system wykrywania znajduje się w pozycji głębokiej, to ±3 µm
          *6 Jeśli system wykrywania znajduje się w pozycji standardowej, w temperaturze otoczenia +23°C ±1°C oraz przy obciążeniu stolika wynoszącym 3 kg lub mniej. Jeśli system wykrywania znajduje się w pozycji głębokiej, to ± (10 + 0,02 L) µm, gdzie L to długość pomiaru w mm.
          *7 Robocza temperatura otoczenia: 23°C ±1°C.
          *8 Maksymalna wysokość pomiaru 30 mm lub mniej. ±3 µm, gdy maksymalna wysokość pomiaru mieści się w zakresie 30–75 mm.
          *9 Maksymalna wysokość pomiaru 30 mm lub mniej. ±9,5 µm, gdy maksymalna wysokość pomiaru mieści się w zakresie 30–75 mm.

          Powrót na górę strony

          KEYENCE INTERNATIONAL (BELGIUM) NV/SA Siedziba główna:
          Bedrijvenlaan 5, 2800 Mechelen, Belgia
          Tel: +48 71 368 61 60
          E-mail: info@keyence.eu
          Oferty pracy: Strona z ofertami pracy w KEYENCE

          Projektory pomiarowe