Ostatnie wyszukiwania
    Seria ( wyników)
      Modele ( wyników)
        Słowa kluczowe
          1. Strona główna
          2. Produkty
          3. Mikroskopy
          4. Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D
          5. Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D
          6. Modele
          7. Kontroler

          Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3DSeria VK-X

          Kontroler

          VK-X1000

          DANE TECHNICZNE

          Wybierz język

          modelul

          VK-X1000

          Typ

          Sterownik

          Powiększenie całkowite

          Do 28 800 x*1

          Pole widzenia (minimalny zakres)

          Od 11 do 7398 µm

          Liczba klatek na sekundę (prędkość pomiaru laserowego)

          4–125 Hz, 7900 Hz*2

          Zasada pomiaru

          Układ optyczny

          Konfokalny system optyczny z otworem, Ostrość

          Element odbierający światło

          16-bitowe wykrywanie: fotopowielacz, CMOS z kolorem w wysokiej rozdzielczości

          Metoda skanowania (podczas pomiaru ogólnego I zszywania obrazów)

          Automatyczne ustawianie górnej/dolnej granicy, szybkie ustawianie intensywności światła laserowego (AAGII), automatyczne wykrywanie i skanowanie w przypadku słabego odbicia (podwójne skanowanie)

          Pomiar wysokości

          Rozdzielczość wyświetlacza

          0,5 nm (VK-X1100), 5 nm (VK-X1050)

          Skala liniowa

          Zakres dynamiczny

          16 bitów

          Powtarzalność σ

          Konfokalny pomiar laserowy

          20 x, 40 nm; 50 x, 12 nm (VK-X1100)
          20 x, 40 nm; 50 x, 20 nm (VK-X1050)

          Zmiana ostrości

          5 x, 500 nm; 10 x, 100 nm; 20 x, 50 nm; 50 x, 20 nm (VK-X1100)
          5 x, 500 nm; 10 x, 100 nm; 20 x, 50 nm; 50 x, 30 nm (VK-X1050)

          Zakres pobierania danych wysokości

          0,7 mln kroków

          Dokładność

          0,2 + L/100 µm lub lepiej*3

          Pomiar szerokości

          Rozdzielczość wyświetlacza

          1 nm (VK-X1100), 10 nm (VK-X1050)

          Powtarzalność 3σ

          Konfokalny pomiar laserowy

          20 x, 100 nm; 50 x, 40 nm (VK-X1100)
          20 x, 100 nm; 50 x, 50 nm (VK-X1050)

          Zmiana ostrości

          5 x, 400 nm; 10 x, 400 nm; 20 x, 120 nm; 50 x, 50 nm (VK-X1100)
          5 x, 400 nm; 10 x, 400 nm; 20 x, 120 nm; 50 x, 65 nm (VK-X1050)

          Dokładność

          ±2%*3

          Konfiguracja stolika XY

          Ręczny: Zakres ruchu

          70 mm × 70 mm

          Napędzany: Zakres ruchu

          100 mm × 100 mm

          Obserwacja

          Opcje obrazu

          16-bitowy, laserowy, konfokalny, kolorowy obraz CMOS o wysokiej rozdzielczości, konfokalny, konfokalny system optyczny z filtrem ND, obraz C-laser DIC (kontrast Nomarskiego)

          Oświetlenie

          Oświetlenie pierścieniowe, oświetlenie współosiowe

          Źródło światła laserowego do pomiarów

          Długość fali

          Fioletowy laser półprzewodnikowy, 404 nm (VK-X1100)
          Czerwony laser półprzewodnikowy, 661 nm (VK-X1050)

          Maksymalna moc wyjściowa

          1 mW

          Klasa lasera

          Produkt laserowy klasy 2 (IEC60825-1)

          Zasilanie

          Napięcie zasilania

          100–240 V AC, 50/60 Hz

          Pobór prądu

          150 VA

          Masa

          Ok. 3,0 kg

          *1 23-calowy wyświetlacz pełnoekranowy.
          *2 Przy maksymalnej prędkości przy zastosowaniu kombinacji trybu pomiaru/jakości pomiaru/powiększenia obiektywu. Gdy skanowanie linii mieści się w zakresie skoku pomiarowego 0,1 µm.
          *3 Podczas pomiaru próbki standardowej (skala standardowa) z obiektywem 20 x (lub wyższym).

          Powrót na górę strony

          KEYENCE INTERNATIONAL (BELGIUM) NV/SA Siedziba główna:
          Bedrijvenlaan 5, 2800 Mechelen, Belgia
          Tel: +48 71 368 61 60
          E-mail: info@keyence.eu
          Oferty pracy: Strona z ofertami pracy w KEYENCE

          Mikroskopy