Ostatnie wyszukiwania
    Seria ( wyników)
      Modele ( wyników)
        Słowa kluczowe
          1. Strona główna
          2. Produkty
          3. Mikroskopy
          4. Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D
          5. Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D
          6. Modele
          7. Głowica pomiarowa: Czerwony laser półprzewodnikowy

          Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3DSeria VK-X

          Głowica pomiarowa: Czerwony laser półprzewodnikowy

          VK-X1050

          DANE TECHNICZNE

          Wybierz język

          modelul

          VK-X1050

          Typ

          głowica pomiarowa

          Powiększenie całkowite

          Do 28 800 x*1

          Pole widzenia (minimalny zakres)

          Od 11 do 7398 µm

          Liczba klatek na sekundę (prędkość pomiaru laserowego)

          4–125 Hz, 7900 Hz*2

          Zasada pomiaru

          Układ optyczny

          Konfokalny system optyczny z otworem, Ostrość

          Element odbierający światło

          16-bitowe wykrywanie: fotopowielacz, CMOS z kolorem w wysokiej rozdzielczości

          Metoda skanowania (podczas pomiaru ogólnego I zszywania obrazów)

          Automatyczne ustawianie górnej/dolnej granicy, szybkie ustawianie intensywności światła laserowego (AAGII), automatyczne wykrywanie i skanowanie w przypadku słabego odbicia (podwójne skanowanie)

          Pomiar wysokości

          Rozdzielczość wyświetlacza

          5 nm

          Skala liniowa

          Zakres dynamiczny

          16 bitów

          Powtarzalność σ

          Konfokalny pomiar laserowy

          20 x, 40 nm; 50 x, 20 nm

          Zmiana ostrości

          5 x, 500 nm; 10 x, 100 nm; 20 x, 50 nm; 50 x, 30 nm

          Zakres pobierania danych wysokości

          0,7 mln kroków

          Dokładność

          0,2 + L/100 µm lub lepiej*3

          Pomiar szerokości

          Rozdzielczość wyświetlacza

          10 nm

          Powtarzalność 3σ

          Konfokalny pomiar laserowy

          20 x, 100 nm; 50 x, 50 nm

          Zmiana ostrości

          5 x, 400 nm; 10 x, 400 nm; 20 x, 120 nm; 50 x, 65 nm

          Dokładność

          ±2%*3

          Konfiguracja stolika XY

          Ręczny: Zakres ruchu

          70 mm × 70 mm

          Napędzany: Zakres ruchu

          100 mm × 100 mm

          Obserwacja

          Opcje obrazu

          16-bitowy, laserowy, konfokalny, kolorowy obraz CMOS o wysokiej rozdzielczości, konfokalny, konfokalny system optyczny z filtrem ND, obraz C-laser DIC (kontrast Nomarskiego)

          Oświetlenie

          Oświetlenie pierścieniowe, oświetlenie współosiowe

          Źródło światła laserowego do pomiarów

          Długość fali

          Czerwony laser półprzewodnikowy, 661 nm

          Maksymalna moc wyjściowa

          1 mW

          Klasa lasera

          Produkt laserowy klasy 2 (IEC60825-1)

          Zasilanie

          Napięcie zasilania

          100–240 V AC, 50/60 Hz

          Pobór prądu

          150 VA

          Masa

          Ok. 13,0 kg

          *1 23-calowy wyświetlacz pełnoekranowy.
          *2 Przy maksymalnej prędkości przy zastosowaniu kombinacji trybu pomiaru/jakości pomiaru/powiększenia obiektywu. Gdy skanowanie linii mieści się w zakresie skoku pomiarowego 0,1 µm.
          *3 Podczas pomiaru próbki standardowej (skala standardowa) z obiektywem 20 x (lub wyższym).

          Powrót na górę strony

          KEYENCE INTERNATIONAL (BELGIUM) NV/SA Siedziba główna:
          Bedrijvenlaan 5, 2800 Mechelen, Belgia
          Tel: +48 71 368 61 60
          E-mail: info@keyence.eu
          Oferty pracy: Strona z ofertami pracy w KEYENCE

          Mikroskopy