Ostatnie wyszukiwania
    Seria ( wyników)
      Modele ( wyników)
        Słowa kluczowe
          1. Strona główna
          2. Produkty
          3. Mikroskopy
          4. Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D
          5. Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D
          6. Modele
          7. Kontroler

          Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3DSeria VK-X

          Kontroler

          VK-X120K

          [Model wycofany z oferty]

          Ten model został wycofany z oferty.

          Zgodność ze standardem certyfikacji zapewniona jest od momentu wysyłki z naszej firmy.

          Aby się z nami skontaktować:

          DANE TECHNICZNE

          Wybierz język

          modelul

          VK-X120K

          Powiększenie całkowite

          Do 19 200×*1

          Pole widzenia (minimalny zakres)

          Od 16 do 5400 µm

          Liczba klatek na sekundę

          Prędkość pomiaru laserowego

          4–120 Hz, 7900 Hz*2

          Zasady pomiaru

          Układ optyczny

          Konfokalny system optyczny z otworem

          Pomiar wysokości

          Skala liniowa

          5 nm

          Powtarzalność σ

          20×: 40 nm, 50×: 20 nm, 100×: 20 nm*3

          Pamięć pomiarów na osi Z

          1,4 mln kroków

          Dokładność

          0,2 + L/100 µm lub lepiej*4*5

          Pomiar szerokości

          Rozdzielczość wyświetlacza

          10 nm

          Powtarzalność 3σ

          20×: 100 nm, 50×: 50 nm, 100×: 30 nm*3

          Dokładność

          ±2%*6

          Konfiguracja stolika XY

          Ręczny: Zakres roboczy

          70 mm × 70 mm

          Napędzany: Zakres roboczy

          50 × 50 mm, 100 × 100 mm*7

          Obserwacja

          Maksymalna rozdzielczość rejestrowania

          3072×2304

          Masa

          Mikroskop

          Ok. 25 kg (bez głowicy czujnika, ok. 8,5 kg)

          Sterownik

          Ok. 11 kg

          *1 Z 23-calowym monitorem.
          *2 Przy maksymalnej prędkości przy zastosowaniu kombinacji trybu pomiaru/jakości pomiaru/powiększenia obiektywu. Gdy skanowanie linii mieści się w zakresie skoku pomiarowego 0,1 µm.
          *3 Podczas pomiaru skali odniesienia z 20× obiektywem (lub wyższym) w temperaturze otoczenia 20°C ± 2°C. Z wyjątkiem modelu VK-X120/X130 z obiektywem 100×.
          *4 Podczas pomiaru skali odniesienia z obiektywem 20x (lub wyższym) w temperaturze otoczenia 20°C ± 2°C. W przypadku VK-X120/X130 z obiektywem 100x.
          *5 L = pionowa długość pomiarowa w µm
          *6 Podczas pomiaru skali odniesienia z obiektywem 20× (lub wyższym) w temperaturze otoczenia 20 ± 2°C. Z wyjątkiem modelu VK-X120/X130 z obiektywem 100×.
          *7 Ze stolikiem napędzanym.

          Do pobrania:

          Powrót na górę strony

          KEYENCE INTERNATIONAL (BELGIUM) NV/SA Siedziba główna:
          Bedrijvenlaan 5, 2800 Mechelen, Belgia
          Tel: +48 71 368 61 60
          E-mail: info@keyence.eu
          Oferty pracy: Strona z ofertami pracy w KEYENCE

          Mikroskopy