Ostatnie wyszukiwania
    Seria ( wyników)
      Modele ( wyników)
        Słowa kluczowe
          1. Strona główna
          2. Produkty
          3. Mikroskopy
          4. Profilometr / Chropowatościomierz
          5. Optyczny profilometr 3D ze sterowaniem jednym przyciskiem
          6. Modele
          7. Głowica optycznego profilografu 3D ze sterowaniem jednym przyciskiem do szerokich powierzchni

          Optyczny profilometr 3D ze sterowaniem jednym przyciskiemSeria VR

          Głowica optycznego profilografu 3D ze sterowaniem jednym przyciskiem do szerokich powierzchni

          VR-5200

          DANE TECHNICZNE

          Wybierz język

          modelul

          VR-5200

          Typ

          Głowica

          Źródła światła

          Źródło światła do obserwacji

          Pierścień LED (światło czerwone, niebieskie, zielone)

          Źródło światła do pomiaru

          Biała dioda LED

          Kontroler

          VR-5000

          Pole widzenia

          Małe powiększenie (szerokie pole widzenia)

          Powiększenie na monitorze 15" 12×

          Poziomo

          24,0 mm

          Pionowo

          18,0 mm

          Powiększenie na monitorze 15" 25×

          Poziomo

          12,0 mm

          Pionowo

          9,0 mm

          Powiększenie na monitorze 15" 38×

          Poziomo

          8,0 mm

          Pionowo

          6,0 mm

          Powiększenie na monitorze 15" 50×

          Poziomo

          Pionowo

          4,5 mm

          Duże powiększenie (wysoka rozdzielczość)

          Powiększenie na monitorze 15" 40×

          Poziomo

          7,6 mm

          Pionowo

          5,7 mm

          Powiększenie na monitorze 15" 80×

          Poziomo

          3,8 mm

          Pionowo

          2,9 mm

          Powiększenie na monitorze 15" 120×

          Poziomo

          2,5 mm

          Pionowo

          1,9 mm

          Powiększenie na monitorze 15" 160×

          Poziomo

          Pionowo

          1,4 mm

          Powiększenie

          1× do 4×

          Pomiar wysokości

          Rozdzielczość wyświetlacza

          0,1 μm

          Zakres pomiaru wysokości

          Bez zszywania Z

          Małe powiększenie (szerokie pole widzenia): 10 mm
          Duże powiększenie (wysoka rozdzielczość): 1 mm

          Z zszywaniem Z

          Małe powiększenie (szerokie pole widzenia): 50 mm
          Duże powiększenie (wysoka rozdzielczość): 30 mm

          Powtarzalność (σ)

          Bez zszywania Z

          0,4 µm *1

          Z zszywaniem Z

          1,0 µm *1

          Dokładność pomiaru

          Bez zszywania Z

          ±2,5 µm *1

          Z zszywania Z

          ±4,0 µm *1

          Pomiar szerokości

          Powtarzalność (σ)

          Małe powiększenie (szerokie pole widzenia): ±1 µm
          Duże powiększenie (wysoka rozdzielczość): 0,5 µm
          *1

          Dokładność pomiaru

          Małe powiększenie (szerokie pole widzenia): ±5 µm
          Duże powiększenie (wysoka rozdzielczość): ±2 µm
          *1

          Funkcja zszywania

          W pełni zautomatyzowany pomiar (automatyczne sterowanie XY + automatyczne sterowanie Z), Automatyczna funkcja mapowania, automatyczne ustawienie obszaru *2

          Zakres pomiarowy XY

          206 × 104 mm *2

          Stolik

          Skok XY

          184 × 88 mm (podstawa zmotoryzowana)

          Skok Z

          73 mm (podstawa zmotoryzowana)

          Nośność

          4,5 kg

          Odległość robocza

          75 mm

          Przetwornik obrazu

          Monochromatyczna matryca CMOS, 4 Mpix

          Obiektyw nadajnika

          Podwójny obiektyw telecentryczny × 2

          Obiektyw odbiorczy

          Podwójny obiektyw telecentryczny

          Przetwarzanie danych

          Specjalny komputer z parametrami określonymi przez KEYENCE (system operacyjny: Windows 10 Pro)

          Zasilanie

          Napięcie zasilania

          100 do 240 VAC, 50/60 Hz

          Pobór mocy

          200 VA maks.

          Odporność na warunki otoczenia

          Temperatura otoczenia podczas pracy

          +15 do +30°

          Wilgotność otoczenia podczas pracy

          20 do 80% wzgl. wilg. pow. (bez kondensacji)

          Masa

          Około 28 kg *3

          *1 Wartość uzyskana przy użyciu określonego znormalizowanego sprawdzianu KEYENCE oraz w trybie pomiarowym określonym przez KEYENCE (temperatura otoczenia: 23 ±1°C)
          *2 Wymagany moduł rozszerzenia pomiaru (VR-H3J)
          *3 Masa samego zespołu pomiarowego: około 11 kg

          Powrót na górę strony

          KEYENCE INTERNATIONAL (BELGIUM) NV/SA Siedziba główna:
          Bedrijvenlaan 5, 2800 Mechelen, Belgia
          Tel: +48 71 368 61 60
          E-mail: info@keyence.eu
          Oferty pracy: Strona z ofertami pracy w KEYENCE

          Mikroskopy