Grubość wafla po pokryciu
-
Branża:
- Półprzewodniki/LCD
-
Produkty:
- Czujniki pomiarowe

Seria CL jest wyposażona w specjalny uchwyt montażowy głowicy czujnika do pomiaru grubości oraz funkcję wyrównywania osi optycznej, co umożliwia wykonywanie pomiarów grubości z niespotykaną dokładnością. Pozwala to na stabilny pomiar wafli o chropowatej powierzchni bezpośrednio po szlifowaniu.