Pomiar położenia/średnicy zewnętrznej przewodów miedzianych

Modele z serii LS-9000 są wyposażone w CMOS do pomiaru średnicy zewnętrznej oraz CMOS do pomiaru położenia między nadajnikiem i odbiornikiem. Pozwala to wykonywać pomiary w osi X i osi Y, do których wymagane były dwa przyrządy konwencjonalne, z użyciem jednej głowicy. Pomiar położenia w osiach X i Y pozwala uniknąć odchyleń w grubości powłoki.

Ultraszybki i bardzo dokładny mikrometr optyczny

Seria LS-9000

Powrót do strony „Wybór produktów według branż i aplikacji”