Obserwacja w pochyleniu i pomiar 3D mikroigieł i form

Szybka i wygodna obserwacja w pochyleniu w wysokiej rozdzielczości 4K jest możliwa nawet podczas obserwacji kształtów trójwymiarowych form mikroigieł.

Oświetlenie pierścieniowe (100×)

Oświetlenie współosiowe (500×) + obrazowanie 3D i pomiar profilu