Řada LJ-G přesně měří profil povrchu nebo cíle v osách X a Z. Výška, šířka nebo mezera na profilu povrchu lze změřit pomocí 28 režimů měření.
VLASTNOSTI
- Souběžné měření lze provést až v osmi bodech.
- E3 -CMOS obrazový senzor zajišťuje stabilní měření.
- Systém Quatro Link dosahuje nejvyšší rychlosti vzorkování ve své třídě: 3,8 ms.
- Vysokorychlostní vzorkování za 3,8 ms, vysoká přesnost ±0,1 % z pl. rozs.
- Jednoduchá nabídka nastavení (první ve své třídě)
Zobrazit katalog