Laserbasierte Materialanalyse-Einheit

Modellreihe EA-300

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Laserbasierte Materialanalyse-Einheit Modellreihe EA-300

Neu

Mikroskopie und Materialanalyse
Einfach. Schnell. Präparationsfrei.

  • Materialanalyse mit einem Klick
  • Keine Probenvorbereitung oder Vakuum nötig
  • Automatische Erkennung von Materialien

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Modellreihe EA-300 - Laserbasierte Materialanalyse-Einheit

Neue laserbasierte Materialanalyse-Einheit für Mikroskope der Modellreihe VHX-7000. Legen Sie das Objekt für die Materialanalyse einfach auf den Objekttisch, ohne vorherige Präparation. Leitfähigkeitsbearbeitung, Zuschneiden des Objekts, sowie Vakuum sind nicht notwendig. KI-basierte Vorschläge ermöglichen es auch unerfahrenen Anwendern, Substanzen mittels einer einfachen und schnellen Materialanalyse zu erkennen.

Merkmale

Erkennen von Substanzen direkt von Ihrem Mikroskop aus

Platzieren und analysieren

Eine Materialanalyse ist mit nur einem Klick möglich.
Anwender können problemlos von Mikroskopiefunktionen zur Materialanalyse wechseln, ohne das Laserobjektiv neu ausrichten oder fokussieren zu müssen.

Keine Probenvorbereitung oder Vakuum nötig

Objekte können unabhängig von ihrer Größe zerstörungsfrei und ohne Vorbereitung analysiert werden.
Für die Analyse sind weder Leitfähigkeitsbehandlung noch Vakuum erforderlich.

Nanosekunden-Laser / Plasma-Emission

Automatische Erkennung von Materialien

Eine eingebaute KI-Funktion schlägt das am wahrscheinlichsten erkannte Material vor.
Die Datenbank kann auch verwendet werden, um frühere interne Analyseergebnisse als Referenz abzurufen, wenn ähnliche Fremdpartikel entdeckt werden.

Die erkannten Elemente werden analysiert.
Das wahrscheinlichste Material wird schnell vorgeschlagen.