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Laserscanning-Mikroskope

Eingestellte Modellreihe:
  • 3D Laserscanning-Mikroskop Modellreihe VK-X3000

    Das 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X3000 verwendet drei verschiedene Messprinzipien in einem Gerät vereint, je nach Anwendungsfall können ein konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie zum Einsatz kommen. Dies ermöglicht die Durchführung hochpräziser Messungen und Analysen verschiedener Messobjekte mit einer maximalen Auflösung von 0,01 nm. Eine schnelle Erfassung von Messbereichen bis zu 50 × 50 mm, selbst bei handtellergroßen Messobjekten oder solchen mit großen Höhenunterschieden, ist möglich. Dies ermöglicht eine schnelle Analyse sowohl der Gesamtform als auch spezifischer Bereiche. Auch schwierige Materialien, wie beispielsweise mit transparenten und spiegelnden Oberflächen, können schnell, mit hoher Genauigkeit und großflächig gemessen werden. Dieses 3D Laserscanning-Mikroskop kann Messobjekte unabhängig von der Vergrößerung, Oberflächenrauheit und -beschaffenheit (transparenten/spiegelnde Oberflächen) messen.

  • Konfokales 3D Laserscanning-Mikroskop Modellreihe VK-X

    Das konfokale 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X ist mit zwei Lichtquellen ausgestattet, einer Laserlichtquelle und einer weißen Lichtquelle. Durch das schnelle Scannen der Oberfläche in drei Achsrichtungen bietet diese Modellreihe Bilder mit hoher horizontaler Auflösung und Höhenmessung. Dieser Scanvorgang sorgt für Bilder mit hoher Vergrößerung und hoher Auflösung. Durch die Verwendung von weißem Licht kann das Mikroskop Farbinformationen von der Oberfläche des Objekts erfassen und so ein aussagekräftiges Farbbild aufnehmen. Die Modellreihe VK-X verfügt über einen violetten Laser mit 404 nm und einen roten Halbleiterlaser mit 661 nm. Betrachtung, Messung und Analyse können unter Nutzung der Eigenschaften der jeweiligen Wellenlänge entsprechend der Anwendung durchgeführt werden.

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