Laserscanning-Mikroskope
Das 3D Laserscanning-Mikroskop vereint dank des Triple Principle Integrated drei Messverfahren in einem System. Je nach Anwendungsfall können ein konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie zum Einsatz kommen. Dies ermöglicht hochpräzise Messungen und Analysen beliebiger Messobjekte per Knopfdruck.
Produktpalette
Das 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X4000 vereint drei Messverfahren in einem System: konfokaler Laser, Weißlichtinterferometrie und Fokusvariation. Damit lassen sich hochpräzise Messungen und Analysen verschiedener Messobjekte durchführen. Es liefert schnelle, hochpräzise und großflächige Messungen, selbst auf herausfordernden Oberflächen wie hochglänzenden und transparenten Materialien. Die Modellreihe VK-X4000 bietet außerdem eine neu entwickelte, automatische Multi-Punkt-Messung, mit der Messungen mehrerer Positionen und Messobjekte schnell automatisiert werden können. Durch den geringeren Zeitaufwand sowie einfache Bedienbarkeit optimiert die Modellreihe VK-X4000 die Objektivität, Effizienz und Zuverlässigkeit.
